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上光新光学
 

冲击试样缺口投影仪 CST- 50


冲击试样缺口投影仪 CST- 50
用 途
用于检查夏比V型和U型冲击试样缺口加工质量的专用光学仪器,利用光学投影法将被测物的冲击试样V或U型缺口轮廓放大投射到投影屏上,与投影屏上的冲击试样V或U型缺口标准图形进行比对,以确定被测的冲击试样缺口加工是否合格。
仪器操作简便,检查对比直观、效率高,是目前唯一切实可行并能保证质量的检查方法。
技术规格
规格
技术参数
光学系统
放大倍数
50×
投影屏尺寸
200x200mm
工作台
面积
120x110mm
移动范围
X-Y:10x10mm
升降范围
±12mm
旋转范围
0 -360º
照明系统
卤钨灯
100W/12V
电源
输入功率
AC220V/50Hz 150W
质量
外形尺寸
515x224x603mm
重量
18kg
 
   
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